Метод микроскопического количественного анализа структуры материалов
Термины и определения
Method of microscopic quantitative analysis of the materials structure
Terms and definitions
1. Галузь використання
1.1 Цей стандарт установлює терміни та визначення понять, мік-
роскопічного кількісного аналізу структури матеріалів.
1.2 Терміни, регламентовані в цьому стандарті, обов'язкові
для використання в усіх видах нормативної документації, у довідко-
вій та навчально-методичній літературі, а також для робіт з питань
стандартизації або при використанні результатів цих робіт, включа-
ючи програмні засоби для комп'ютерних систем.
1.3 Вимоги стандарту чинні для використання в роботі підпри-
ємств, установ, організацій, що діють на території України,
технічних комітетів з стандартизації, науково-технічних та інженер-
них товариств, міністерств (відомств).
2. Нормативні посилання
ДСТУ 1.2-93 |
Державна система стандартизації України. Порядок розроблення державних стандартів. |
ДСТУ 1.5-93 |
Державна система стандартизації України. Загальні вимоги до побудови, викладу, оформлення та змісту стандартів. |
КНД 50-011-93 |
Основні положення та порядок розроблення стандартів на терміни та визначення. |
3. Основні положення
3.1 Для кожного поняття встановлено один стандартизований
термін.
3.2 Подані визначення можна в разі необхідності розвивати
шляхом введення до них похідних ознак, які доповнюють значення
термінів, що використовуються. Доповнення не можуть порушувати
обсяги і зміст понять, визначених у стандарті.
3.3 У стандарті, як довідкові, подані німецьки (de), англі-
йські (en), французькі (fr) і російські (ru) відповідники стандар-
тизованих термінів, а також визначення російською мовою.
3.4 У стандарті наведено абетковий покажчик термінів україн-
ською мовою та абеткові покажчики іншомовних відповідників стан-
дартизованих термінів кожною мовою окремо.
4. Загальні поняття
4.1 Основні характеристики
4.1.1 кількісний фізико- de Quantitativephysikalisch-
хімічний аналіз chemishe Analyse
en quantitative physical and
chemical analysis
fr analyse quantative
physico-chimique
ru количественный физико-
химический анализ
Спосіб, який побудований Способ, основанный на из-
на вимірюванні фізичних мерении физических свойств
властивостей речовин, веществ, соединений, мате-
сполук, матеріалів з ви- риалов с использованием со-
користанням відповідних ответствующих измерительных
вимірювальних приладів приборов
4.1.2 кількісна оцінка de Quantitative
структури Strukturabsch[a1]tzung *
en quantitative evaluation
of a structure
fr evalution quantative
d'une structure
ru количественнаяоценка
структуры
Визначення числових зна- Определение числовых зна-
чень параметрів структури чений параметров структуры
4.1.3 оптичнамікроскопія de Optische Mikroskopie
en optical microscopy
fr microscopie optique
ru оптическаямикроскопия
Сукупність методів спо- Совокупность методов на-
стереження мікрооб'єк- блюдения микоробЬектов с
тів за допомогою різних помощью различных оптиче-
оптичних мікроскопів, ских микроскопов, дающих
які дають можливість возможность рассматривать
розглядати їх структуру их структуру
4.1.4 мікроскопічний кіль- de Quantitative mikroskopische
кісний аналіз Strukturuntersuchung
структури en microscopic guantitative
analysis of structure
fr analyse quantative micro-
scopique d'une structure
ru микроскопическийколичест-
венный анализ структуры
Метод, який побудований Метод, основанный на из-
на вимірюванні під мік- мерении под микроскопом
роскопом лінійних роз- линейных размеров сечений
мірів перерізів складо- составных элементов струк-
вих елементів структури туры (частиц и пор) в пло-
(частинок і пор) у пло- скости среза материала
щині зрізу матеріалу (шлифа, аншлифа) и вычис-
(шліфа, аншліфа) і обчи- лении на основании получе-
слення на підставі одер- нных результатов измерения
жаних результатів вимі- параметров структуры
рювання параметрів стру-
ктури
4.1.5 мікрознімання структури de Strukturmikroaufnahme
en structure photomicrography
fr photomicrographie d'une
structure
ru микросъемка структуры
Фото- або кінознімання Фото- или киносъемка
структури матеріалу, структуры материала,
що виконуються із збі- выполненная с увеличением
льшенням у 20-3500 ра- в 20-3500 раз при помощи
зів за допомогою опти- оптических микроскопов
чних мікроскопів
4.1.6 шліф de Schliff
en (micro) section metallo-
graphic specimen
fr section polie
ru шлиф
Препарат у вигляді тонкої Препарат, представляющий
прозорої пластинки дос- собой тонкую прозрачную
ліджуваного матеріалу пластинку изучаемого мате-
завтовшки 0,02-0,03 мм, риала толщиной 0,02-0,03 мм,
що вклеєна бальзамом між вклеенную бальзамом между
предметним і накривним предметным и покровным сте-
склом і призначений для клом и предназначенный для
вивчення під мікроскопом изучения под микроскопом
у прохідному світлі в проходящем свете
4.1.7 аншліф de Anschliff
(непрозорийшліф) en opaque (micro) section
metallographic specimen
fr lame mince opaque
ru аншлиф (непрозрачный шлиф)
Препарат у вигляді зра- Препарат, представляющий
зка матеріалу, одна собой образец материала,
сторона якого відшліфо- одна сторона которого про-
вана та відполірована шліфована и отполирована до
до дзеркального блиску, зеркального блеска; пред-
призначений для вивчення назначен для изучения под
під мікроскопом у відби- микроскопом в отраженном
тому світлі свете
4.1.8 предметне скло de Deckglas
en (microskopic) slide
fr porte-object (du microscope)
ru предметное стекло
Скляна пластинка, на Стеклянная пластинка, на
яку наклеюється зріз которую наклеивается срез
зразка матеріалу при матриала при изготовлении
виготовлені шліфа або шлифа или помещается поро-
розміщується порошок шок материала для изучения
матеріалу для вивчення его в иммерсионных жидкос-
його у імерсійних ріди- тях
нах
4.1.9 накривнескло de Objecktglas
en cover glass
fr couvre-objet
ru покровноестекло
Скляна пластинка, для Стеклянная пластинка, пред-
захисту препарату, що назначенная для предохране-
вивчається, від пилу нения изучаемого препарата
і пошкоджень пыли и повреждений
4.1.10 бальзам de Balsam
en balsam
fr baume
ru бальзам
Складна суміш ефірних Сложная смесь эфирных масел,
мастил, смол, яка не- смол, нерастворимая в воде
розчинна у воді і и твердеющая на воздухе, ис-
твердне на повітрі, пользуемая в качестве кле-
що застосовується для ющего компонента при изго-
склеювання при виготов- товлении шлифов
ленні шліфів
4.2. Структура матеріалу, її елементи,складові
4.2.1 структура матеріалу de Stoffstruktur
en material structure
fr structure d'un
mat[e2]riall *
ru структура материала
Будова матеріалу, яка Строение материала, опре-
визначається абсолютним деляемое абсолютным и от-
та відносним розмірами, носительным размерами,
формою і характером формой и характером повер-
поверхні елементів стру- хности элементов структуры
ктури та їх просторовим и их пространственным вза-
взаємовідношенням имоотношением
4.2.2 макроструктура матеріалу de Makrostoffstruktur
en material macrostructure
fr macrostructure d'un
mat[e2]riall *
ru макроструктура материала
Структура матеріалу, Структура материала, эле-
елементи якого роз- менты которого различимы
пізнаються неозброє- невооруженным глазом
ним оком
4.2.3 мікроструктураматеріалу de Mikrostoffstruktur
en material microstructure
fr microstructure d'un
mat[e2]riall *
ru микроструктура материала
Структура матеріалу, Структура материала, эле-
елементи якого роз- менты которого различимы
пізнаються тільки только под микроскопом
під мікроскопом
4.2.4 структурна складова de Gef[u1]gebestandteil *
en structure component
fr constituant de structure
ru структурная составляющая
Частина структури мате- Часть структуры материала,
ріалу, яка має характе- с характерными только для
рні тільки для неї осо- нее особенностями
бливості
4.2.5 зерниста структура de K[o1]rnungstruktur *
en structure graininess
fr granulosit[e2] de *
structure
ru зернистая структура
Структура матеріалу, Структура материала, сос-
яка складається вик- тоящего исключительно из
лючно з кристалічних кристаллических зерен
зерен
4.2.6 базальнаструктура de Balsamstruktur
en balsam strukture
fr structure de basall
ru базальтоваяструктура
Структура матеріалу, Структура материала, в
в якому зв'язуюча котором связующее веще-
речовина повністю ство полностью разобщает
відокремлює зерна, зерна, нигде непосредст-
які ніде безпосере- венно не соприкасающиеся
дньо не стискаються друг с другом
одне з одним
4.2.7 порова структура de Porenstruktur
en porous strukture
fr structure poreuse
ru поровая структура
Структура матеріалу, Структура материала, в
в якому зв'язуюча котором связующее веще-
речовина заповнює ство полностью заполняет
простір, який залиша- пролстранство, остающееся
ється між зернами, які между более или менее
більш або менш щільно плотно соприкасающимися
стикаються зернами
4.2.8 контактна структура de K[o1]ntaktstruktur *
fr structure de contact
ru контактна структура
Структура матеріалу, Структура материала, в
в якому зв'язуюча котором связующее веще-
речовина присутня ство присутствует только
тільки в місцях сти- в местах соприкосновения
кання зерен зерен
4.2.9 плівкова структура de Filmstruktur
en pelliste strukture
fr structure pelliculaire
ru пленочная структура
Структура матеріалу, Структура материала, в
в якому зв'язуюча котором связующее веще-
речовина обволікає ство обволакивает зерна
зерна у вигляді тон- в виде тонкой пленки
коїплівки
4.2.10 пори de Poren
en pores
fr pores
ru поры
Простір в об'ємі ма- Пространство в обЬеме
теріалу, не зайнятий материала, не занятое
речовиною матеріалу веществом материала
4.2.11 пористість загальна de Gesamtporosit[a1]t *
en total porosity
fr porosit[e2] ouverte totale *
ru пористость общая
Сумарний відносний Суммарный относительный
об'єм пор і порожнин, обЬем пор и пустот, со-
що містяться у мате- держащихся в материале
ріалі
4.2.12 пористість відкрита de Offene Porosit[a1]t *
en open porosity
fr porosit[e2] ouverte *
ru пористость открытая
Сукупність з'єднаних Совокупность соединенных
між собою пор і порож- между собой пор и пустот,
нин, які сполучені з сообщающихся с внешней
зовнішнім середовищем средой
4.2.13 пористість закрита de Geschlossene Porosit[a1]t *
en closed porosity
fr porosit[e2] ferm[e2]e *
ru пористость закрытая
Сукупність пор, які не Совокупность пор, не сооб-
мають сполучення між щающихся между собой и вне-
собою і зовнішнім сере- шней средой
довищем
4.2.14 тріщини de Risse
en cracks
fr fissures
ru трещины
Розриви у матеріалі, Разрывы в материале,
видимі неозброєним видимые невооруженным
оком глазом
4.2.15 мікротріщини de Mikrorisse
en microcracks
fr microfissures
ru микротрещины
Розриви у матеріалі, Разрывы в материале,
видимі тільки під видимые только с по-
мікроскопом мощью микроскопа
4.2.16 мінерал de Mineral
en mineral
fr min[e2]ral *
ru минерал
Кристалічне тіло, Кристаллическое тело,
приблизно однорідне приблизительно одноро-
за хімічним складом дное по химическому со-
і фізичними властивос- ставу и физическим сво-
тями, яке утворилось в йствам, образовавшееся в
результаті фізико-хі- результате физико-хими-
мічних процесів, що ві- ческих процессов, проис-
дбуваються у природі чи ходящих в природе или
штучних умовах искусственных условиях
4.2.17 кристал de Kristall
en crystal
fr cristal
ru кристалл
Тверде тіло, в якому Твердое тело, в котором
елементарні частинки элементарные частицы
(атоми, іони, молеку- (атомы, ионы, молекулы)
ли), розташовані за- расположены закономерно
кономірно за геометри- по геометрическим зако-
чними законами просто- нам пространственных групп
рових груп і відповід- и соответствующих решеток
них граток
4.2.18 анізотропниймінерал de Anisotroper Kristall
en anisotrop mineral
fr min[e2]ral anisotrope *
ru анизотропный минерал
Мінерал, який має рі- Минерал, который имеет
зні фізичні властиво- различные физические
сті у різних напрямках, свойства в различных на-
і, зокрема, характери- правлениях и, в частности,
зується подвійним про- характеризуется двойным
менезаломленням при лучепреломлением при про-
проходженні світла хождении света
4.2.19 ізотропний мінерал de Isotroper Kristall
en isotrop mineral
fr min[e2]ral isotrope *
ru изотропный минерал
Мінерал, який має од- Минерал, который имеет
накові фізичні властиво- одинаковые физические
сті у різних напрямках свойства в различных на-
і при проходженні світла правлениях и при прохож-
не має подвійного проме- дении света не имеет
заломлення двойного лучепреломления
4.3 Методи вимірювання і визначенняпараметрів структури
4.3.1 метод de Verfahren
en method
fr m[e2]thode *
ru метод
Сукупність заходів або Совокупность приемов или
операцій для розв'язан- операций по решению кон-
ня конкретного завдання кретной задачи при рабо-
при роботі на певному те на конкретном обору-
обладнанні довании
4.3.2 параметри структури de Strukturparameter
en structure parameter
fr param[e2]tres de structure *
ru параметры структуры
Величина, яка характе- Величина, характеризующая
ризує властивості свойства структуры матери-
структури матеріалу ала
4.3.3 вимірюваний об'єкт de Messobjekt
en measured object
fr object [a4] mesurer *
ru измеряемый обЬект
Об'єкт, одна або де- ОбЬект, одна или несколь-
кілько характеристик ко характеристик (измеря-
(вимірювання величин) емых величин) которого оп-
якого визначаються ределяются посредством из-
шляхом вимірювання мерений
4.3.4 фотометричні оптичні de Photometrisch-optische
вимірювання Messunge
en optical photometric
measurenments
fr mesures optiques
photom[e2]triques *
ru фотометрические оптичес-
кие измерения
Вимірювання, які про- Измерения, проводимые с
водяться з використан- использованием фотоэлек-
ням фотоелектронних тронных приборов
приладів
4.3.5 візуальний підрахунок de Visuelle Berechnung der
параметрівструктури Strukturparameter
en visual calculation of
structural parameters
fr calcul visuel des
param[e2]tres structuraux *
ru визуальныйподсчетпара-
метров структуры
Метод, побудований на Метод, основанный на срав-
порівнянні кількості нении количества составных
складових частин струк- частей структуры в поле
тури в полі зору мікро- зрения микроскопа с норма-
скопа з нормативними тивными таблицами
таблицями
4.3.6 планіметричний підра- de Planimetrische Berechnung
хунок параметрів стру- der Strukturparameter
ктури en planimetric calculation
of structural parameters
fr calcul planim[e2]trigue *
des param[e2]tres
structuraux *
ru планиметрический подсчет
параметров структуры
Метод, побудований на Метод, основанный на под-
підрахунку суми площ счете суммы площадей сос-
складових частин струк- тавных частей структуры
тури (у шліфі або ан- (в шлифе или аншлифе) с
шліфі) за допомогою пла- помощью планиметрической
німетричної сітки у ква- сетки в квадратно-сетчатом
дратному сітчастому окуляр-микрометре
окуляр-мікрометрі
4.3.7 лінійнийпідрахунок de Lineare Berechnung der
параметрівструктури Strukturparameter
en linear calculation
of structural parameters
fr calcul lin[e2]aire des *
param[e2]tres structuraux *
ru линейныйподсчет
параметров структуры
Метод, побудований на Метод, основанный на подс-
підрахунку суми площ счете суммы площадей сос-
складових частин струк- тавных частей структуры
тури (у шліфі або ан- (в шлифе или аншлифе) с
шліфі) за допомогою помощью линейного окуляр-
лінійного окуляр-мікро- микрометра или счетных
метра або лічильних приборов
приладів
4.3.8 фотоелектронний підра- de Photoelektronische
хунок параметрів стру- Berechnung der
ктури Strukturparameter
en photoelectron calculation
of structural parameters
fr calcul photo[e2]lectro- *
nique des param[e2]tres
structuraux *
ru фотоэлектронный подсчет
параметров структуры
Метод, побудований на Метод, основанный на изме-
вимірюваннях інтенсив- рениях интенсивности сум-
ності сумарного потоку марного потока отраженного
відбитого випромінюва- излучения на фотоэлектрон-
ння на фотоелектронних ных установках
установах
4.3.9 коефіцієнт нерівномір- de Ungleichf[o1]rmigkeitsgrad *
ності en irregularity factor
fr facteur d'irr[e2]gula- *
rit[e2] *
ru коффициент неравномерности
Відношення максималь- Отношение максимального и
ного і мінімального минимального линейных раз-
лінійних розмірів ча- меров частиц во взаимно
стинок у взаємноперпен- перпендикулярных направле-
дикулярних напрямках ниях
4.3.10 коефіцієнт функції de Partikelverteilungsfun-
розподілучастинок ktionskoeffizient
en function factor of
particle distribution
fr facteur de fonction de
distribution den parti-
cules
ru коффициентфункциираспре-
ления частиц
Відношення квадратич- Отношение квадратичного
ного відхилення раді- отклонения радиусов частиц
усів частинок до різ- к разнице максимального и
ниці максимального і минимального радиусов
мінімального радіусів частиц
частинок
4.3.11 ціна умовної одиниці de Wert der konventionellen
вимірювання Masseinkeit
en value of an of measu-
rement
fr valeuer d'une unit[e2] *
de mesure
ru цена условной единицы
измерения
Показник перерахунку Показатель пересчета
одиниць вимірювання единиц измерения при-
приладу у натуральні бора в натуральные
одиниці довжини единицы длины
4.3.12 об'ємний вміст компо- de Volumenkomponentenge-
нентавматеріалі halt des Stoffes
en volume proportion of a
component in the
material
fr teneur volumigue on
composant dans le
mat[e2]rial *
ru обЬемное содержание компо-
нента в материале
Відношення об'єму ча- Отношение обЬема частиц
стинок даного компо- данного компонента к об-
нента до загального щему обЬему материала
об'єму матеріалу
4.3.13 середня площа перері- de Partikelschnittmittel-
зів частинок (кругів) fl[a1]che *
en average area of particle
section (circleas)
fr surfase moyenne des section
de particules (cercles)
ru средняя площадь сечений
частиц (кругов)
Величина, яка характе- Величина, характеризуемая
ризується сумарною суммарной площадью частиц
площею частинок даного данного компонента на
компонента на зрізі, срезе, отнесенной к коли-
віднесеною до кількості честву тих частиц
цих частинок
4.3.14 середньоарифметичний de Mittelarithmetischer
радіус частинок Partikelradius *
en arithmetic mean radius
of particles
fr rayon de moyenne arith-
m[e2]tigue des particules *
ru среднеарифметический ра-
диус частиц
Відношення сумарної Отношение суммарной длины
довжини радіусів ча- радиусов частиц к количе-
стинок до кількості ству этих частиц
цих частинок
4.3.15 середньоарифметичний de Mittelarithmetischer
радіус частинок у Schliffpartikelradius
шліфі en arithmetic mean radius
of particles in the
metallographig spesimen
fr rayon de moyenne arith-
m[e2]tigue des particules *
dans la section polie
ru среднеарифметическийра-
диус частиц в шлифе
Відношення сумарної Отношение суммарной длины
довжини радіусів всіх радиусов всех частиц дан-
частинок даного компа- ного компонента на срезе
нента на зрізі до кіль- к количеству этих частиц
кості цих частинок
4.3.16 середній об'єм de Rartikelmittelvilumes
частинок en average volume of
particles
fr volume moyen de particules
ru среднийобЬемчастиц
Відношення сумарної Отношение суммарной длины
довжини радіусів всіх радиусов всех частиц дан-
частинок даного компа- ного компонента на срезе
нента на зрізі до кіль- к количеству этих частиц
кості цих частинок
4.3.17 середньоарифметична de Mittelarithmetische
хорда Sehne
en arithmetic mean chord
fr corde de moyenne arith-
metigue
ru среднеарифметическая
хорда
Відношення суми від- Отношение суммы отрезков
різків в контурі час- в контуре частиц, обра-
тинок, які утворюються зуемых от пересечения пе-
перетином періметрів риметров сечения частиц
перерізів частинок сі- секущей, проведленной в
чною, що проводиться в плоскости шлифа к общему
площині шліфа до зага- количеству этих отрезков
льної кількості цих
відрізків
4.4 Апаратура та її конструктивніелементи
4.4.1 мікроскоп de Mikroskop
en microscope
fr microscope
ru микроскоп
Прилад, який дозволяє Прибор, позволяющий полу-
одержувати збільшене чать увеличенное изобра-
зображення малих об'є- жение малых обЬектов и
ктів та їх деталей, их деталей, невидимых
невидимих неозброєним невооруженным глазом
оком
4.4.2 світловий мікроскоп de Lichtmikroskop
en light microscope
fr microscope de lumi[e2]re *
ru световой микроскоп
Мікроскоп, який формує Микроскоп, формирующий
зображення об'єкта з изображение обЬекта с ис-
використанням світло- пользованием светового из-
вого випромінювання, лучения, имеющий не менее,
має не менш ніж двусту- чем двухступенчатое увели-
пеневе збільшення і чение и позволяющий делать
дозволяє робити видими- видимыми детали обЬекта,
ми деталі об'єкта, що не различимые невооружен-
не розпізнаються неоз- ным взглядом
броєним оком
4.4.3 поляризаційний de Polarisationsmikroskop
мікроскоп en polarizing microscope
fr microscope polarisant
ru поляризационныймикроскоп
Мікроскоп, призначений Микроскоп, предназначе-
для (якісного і кіль- ный для (качественного
кісного вивчення) вста- и количественного изуче-
новлення оптичних ха- ния) определения оптиче-
рактеристик анізотроп- ских характеристик ани-
них мікрооб'єктів з ви- зотропных микробЬектов
користанням поляризації с использованием поляри-
світла зации света
4.4.4 електронний de Elektronenmikroskop
мікроскоп en electron microscope
fr microscope [e2]lectronique *
ru электронный микроскоп
Мікроскоп, який формує Микроскоп, формирующий
зображення об'єкта изображение обЬекта
електронним пучком і электронним пучком и сред-
засобами електронної ствами электронной оптики
оптики
4.4.5 стереоскопічний de Stereopolarisationsmikro-
поляризаційний skop
мікроскоп en microscope ster[e2]osco- *
pique polarizant
fr microscope polarisant
ru стереоскопическийполяри-
зационный микроскоп
Мікроскоп, призначений Микроскоп, предназначе-
для дослідження об'єк- ный для исследования обЬ-
тів у прохідному, від- ектов в проходящем, отра-
битому, звичайному і женном, обыкновенном и по-
поляризованому світлі і ляризованном свете и обес-
забезпечує одержання печивающий получение обЬе-
об'ємного зображення много изображения обЬекта
об'єкта
4.4.6 металографічний de Metallmikroskop
мікроскоп en m[e2]tallographic *
microscope
fr microscope m[e2]tallo- *
graphique
ru металлографический
микроскоп
Мікроскоп загального Микроскоп общего назна-
призначення для дос- чения для исследований
лідження непрозорих непрозрачных обЬектов в
об'єктів у відбитому отраженном свете
світлі
4.4.7 вимірювальний de Messmikroskop
мікроскоп en measuring microscope
fr microscope de mesurage
ru измерительный микроскоп
Прилад для вимірюван- Прибор для измерения
ня лінійних і кутових линейных и угловых
величин, візирним при- величин, визирным уст-
строєм якого є оптичний ройством которого явля-
мікроскоп ется оптический микроскоп
4.4.8 мікротом de Mikrotom
en microtome
fr microtome
ru микротом
Інструмент для одер- Инструмент для получения
жання тонких зрізів тонких срезов с образца
із зразка матеріалу материала для изучения
для вивчення під мі- под микроскопом
кроскопом
4.4.9 мікрометр de Mikrometer
en micrometer
fr microm[e2]tre *
ru микрометр
Прилад для вимірюва- Прибор для измерения
ння лінійних розмірів линейных размеров с
з використанням мікро- использованием микро-
метричної гвинтової метрической винтовой
пари, мікрогвинти якої пары, микровинты которой
з'єднані з відліковим соеденены с отсчетным
пристроєм устройством
4.4.10 мікроскопічний de Intergriermikroskopanlage
інтеграційний en integral microscopic device
пристрій fr dispositif microscopique
int[e2]gral
ru микроскопическое интеграци-
онное устройство
Прилад для кількісного Прибор для количественного
аналізу структури ма- анализа структуры матери-
теріалу оптико-геомет- ала оптико-геометрическим
ричним методом у про- методом в проходящем и от-
хідному і відбитому раженном свете при визуа-
світлі при візуальному льном наблюдении
спостереженні
4.4.11 границя розділення de Mikroskopgrenzaufl[o1]sung *
мікроскопа en resolution limit of a
light microscope
fr limite de r[e2]solition *
du microscope
ru предел разрешения
микроскопа
Мінімальна відстань Минимальное расстояние
між двома елементами между двумя элементами
об'єкта, які ще роз- обЬекта, еще различимыми
різняються оком при глазом при наблюдении в
спостереженні у мікро- микроскоп
скоп
4.4.12 розділення de Mikroskopaufl[o1]gaver- *
мікроскопа m[o1]gen *
en resolving power of a
microscope
fr pouvoir s[e2]parateur *
du microscope
ru разрешающая способность
микроскопа
Величина, обернена Величина, обратная пре-
до границі розділення делу разрешения микрос-
мікроскопа копа
4.4.13 глибина різкості de Mikroskopsch[a1]fen- *
мікроскопа tiefe
en depth of focus of the
microscope
fr profondeuer de foyer
du microscope
ru глубина резкости микро-
скопа
Відстань вздовж опти- Расстояние вдоль опти-
чної осі мікроскопа, ческой оси микроскопа,
у межах якої забезпе- в пределах которого обе-
чується можливість спечивается возможность
спостереження різкого наблюдения резкого изоб-
зображення об'ємного ражения обЬемного обЬекта
об'єкта
Абетковий покажчик українських термінів
аналіз структури мікроскопічний кількісний ............. 4.1.4
аналіз фізико-хімічний кількісний ..................... 4.1.1
аншліф (непрозорий шліф) ............................... 4.1.7
бальзам ................................................ 4.1.10
вимірювання фотометричні оптичні ....................... 4.3.4
вміст компоннета в матеріалі об'ємний .................. 4.3.12
глибина різкості мікроскопа ............................ 4.4.13
границя розділення мікроскопа .......................... 4.4.11
здатність мікроскопа роздільна ......................... 4.4.12
коефіцієнт нерівномірності ............................. 4.3.9
коефіцієнт функції розподілу частинок .................. 4.3.10
кристал ................................................ 4.2.17
макроструктура матеріалу ............................... 4.2.2
метод .................................................. 4.3.1
мікрознімання структури ................................ 4.1.5
мікрометр .............................................. 4.4.9
мікроскоп .............................................. 4.4.1
мікроскоп вимірювальний ................................ 4.4.7
мікроскоп електронний .................................. 4.4.4
мікроскопія оптична .................................... 4.1.3
мікроскоп металографічний .............................. 4.4.6
мікроскоп поляризаційний ............................... 4.4.3
мікроскоп поляризаційний стереоскопічний 4.4.5
мікроскоп світловий .................................... 4.4.2
мікроструктура матеріалу ............................... 4.2.3
мікротом ............................................... 4.4.8
мікротріщини ........................................... 4.2.15
мінерал ................................................ 4.2.16
мінерал анізотропний ................................... 4.2.18
мінерал ізотропний ..................................... 4.2.19
об'єкт вимірювання ..................................... 4.3.3
об'єм частинок середній ................................ 4.3.16
оцінка структури кількісна ............................. 4.1.2
параметри структури .................................... 4.3.2
підрахунок параметрів структури візуальний ............. 4.3.5
підрахунок параметрів структури лінійний ............... 4.3.7
підрахунок параметрів структури фотоелектронний ........ 4.3.8
підрахунок параметрів структури планіметричний ......... 4.3.6
площа перерізів частинок (кругів) середня .............. 4.3.13
пори ................................................... 4.2.10
пористість відкрита .................................... 4.2.12
пористість загальна .................................... 4.2.11
пористість закрита ..................................... 4.2.13
пристрій інтеграційний мікроскопічний .................. 4.4.10
радіус частинок середньоарифметичний ................... 4.3.14
радіус частинок у шліфі середньоарифметичний ........... 4.3.15
складова структурна .................................... 4.2.4
скло накривне .......................................... 4.1.9
скло предметне ......................................... 4.1.8
структура базальна ..................................... 4.2.6
структура зерниста ..................................... 4.2.5
структура контактна .................................... 4.2.8
структура матеріалу .................................... 4.2.1
структура плівкова ..................................... 4.2.9
структура порова ....................................... 4.2.7
тріщини ................................................ 4.2.14
хорда середньоарифметична .............................. 4.3.17
ціна умовної одиниці вимірювання .......................4.3.11
шліф ................................................... 4.1.6
Абетковий покажчик німецьких термінів
Anisotroper Kristall ................................... 4.2.18
Anschliff .............................................. 4.1.7
Balsam ................................................. 4.1.10
Balsamstruktur ......................................... 4.2.6
Deckglas ............................................... 4.1.8
Elektronenmikroskop .................................... 4.4.4
Filmstruktur ........................................... 4.2.9
Gef[u1]gebestandteil ................................... 4.2.4 *
Gesamtporosit[a1]t ..................................... 4.2.11 *
Geschlossene Porosit[a1]t .............................. 4.2.13 *
Intergriermikroskopanlage .............................. 4.4.10
Isotroper Kristall ..................................... 4.2.19
K[o1]ntaktstruktur ..................................... 4.2.8 *
K[o1]rnungstruktur ..................................... 4.2.5 *
Kristall ............................................... 4.2.17
Lichtmikroskop ......................................... 4.4.2
Lineare Berechnung der Strukturparameter ............... 4.3.7
Makrostoffstruktur ..................................... 4.2.2
Messmikroskop .......................................... 4.4.7
Messobjekt ............................................. 4.3.3
Metallmikroskop ........................................ 4.4.6
Mikrometer ............................................. 4.4.9
Mikrorisse ............................................. 4.2.15
Mikroskop .............................................. 4.4.1
Mikroskopgrenzaufl[o1]sung ............................. 4.4.11 *
Mikroskopaufl[o1]gaverm[o1]gen ......................... 4.4.12 *
Mikroskopsch[a1]fentiefe ............................... 4.4.13 *
Mikrostoffstruktur ..................................... 4.2.3
Mikrotom ............................................... 4.4.8
Mineral ................................................ 4.2.16
Mittelarithmetische Sehne .............................. 4.3.17
Mittelarithmetischer Partikelradius .................... 4.3.14
Mittelarithmetischer Schliffpartikelradius ............. 4.3.15
Objecktglas ............................................ 4.1.9
Offene Porosit[a1]t .................................... 4.2.12 *
Optische Mikroskopie ................................... 4.1.3
Rartikelmittelvilumes .................................. 4.3.16
Partikelschnittmittelfl[a1]che ......................... 4.3.13 *
Partikelverteilungsfunktionskoeffizient ................ 4.3.10
Photoelektronische Berechnung der Strukturparameter .... 4.3.8
Photometrisch-optische Messunge ........................ 4.3.4
Planimetrische Berechnung der Strukturparameter ........ 4.3.6
Polarisationsmikroskop ................................. 4.4.3
Poren .................................................. 4.2.10
Porenstruktur .......................................... 4.2.7
Quantitative mikroskopische Strukturuntersuchung ....... 4.1.4
Quantitative physikalisch-chemische Analyse ............ 4.1.1
Quantitative Strukturabsch[a1]tzung .................... 4.1.2 *
Risse .................................................. 4.2.14
Schliff ................................................ 4.1.6
Stereopolarisationsmikroskop ........................... 4.4.5
Stoffstruktur .......................................... 4.2.1
Strukturmikroaufnahme .................................. 4.1.5
Strukturparameter ...................................... 4.3.2
Ungleichf[o1]rmigkeitsgrad ............................. 4.3.9 *
Verfahren .............................................. 4.3.1
Visuelle Berechnung der Strukturparameter .............. 4.3.5
Volumenkomponentengehalt des Stoffes ................... 4.3.12
Wert der konventionellen Masseinkeit ................... 4.3.11
Абетковий покажчик англійських термінів
anisotrop mineral ...................................... 4.2.18
arithmetic mean chord .................................. 4.3.17
arithmetic mean radius of particles .................... 4.3.14
arithmetic mean radius of particles in the
metallographic spesimen ......................... 4.3.15
average area of particle section (circleas) ............ 4.3.13
average volume of particles ............................ 4.3.16
balsam ................................................. 4.1.10
balsam strukture ....................................... 4.2.6
closed porosity ........................................ 4.2.13
contact strukture ...................................... 4.2.8
cover glass ............................................ 4.1.9
cracks ................................................. 4.2.14
crystal ................................................ 4.2.17
depth of focus of the microscope ....................... 4.4.13
electron microscope .................................... 4.4.4
function factor of particle distribution ............... 4.3.10
integral microscopic device ............................ 4.4.10
irregularity factor .................................... 4.3.9
isotrop mineral ........................................ 4.2.19
light microscope ..................................... 4.4.2
linear calculation of structural parameters ........... 4.3.7
material macrostructure ................................ 4.2.2
material microstructure ................................ 4.2.3
material structure ..................................... 4.2.1
measured object ........................................ 4.3.3
measuring microscope ................................... 4.4.7
m[e2]tallographic microscope ........................... 4.4.6
method ................................................. 4.3.1
microcracks ............................................ 4.2.15
micrometer ............................................. 4.4.9
microscope ............................................. 4.4.1
microscopic guantitative analysis of structure ......... 4.1.4
(microskopic) slide .................................... 4.1.8
(micro) section metallographic specimen ................ 4.1.6
microtome .............................................. 4.4.8
mineral ................................................ 4.2.16
opaque (micro) section metallographic specimen ......... 4.1.7
open porosity ......................................... 4.2.12
optical microscopy ..................................... 4.1.3
optical photometric measurenments ...................... 4.3.4
pelliste strukture ..................................... 4.2.9
photoelectron calculation of structural parameters ..... 4.3.8
planimetric calculation of structural parameters ....... 4.3.6
polarizing microscope .................................. 4.4.3
pores .................................................. 4.2.10
porous strukture ....................................... 4.2.7
quantitative physical and chemical analysis ............ 4.1.1
quantitative evaluation of a structure ................. 4.1.2
resolution limit of a light microscope ................. 4.4.11
resolving power of a microscope ........................ 4.4.12
ster[e2]oscopique polarisant microscope ................ 4.4.5
structure component .................................... 4.2.4
structure graininess ................................... 4.2.5
structure parameter .................................... 4.3.2
strukture photomicrography ............................. 4.1.5
total porosity ......................................... 4.2.11
value of an of measurement ............................. 4.3.11
visual calculation of structural parameters ........... 4.3.5
volume proportion of a component in the material ....... 4.3.12
Абетковий покажчик французьких термінів
analyse quantative microscopique d'une structure ....... 4.1.4
analyse quantative physico-chimique ................... 4.1.1
baume .................................................. 4.1.10
calcul lin[e2]aire des param[e2]tres structuraux ....... 4.3.7 *
calcul photo[e2]lectronique des param[e2]tres
structuraux ..................................... 4.3.8 *
calcul visuel des param[e2]tres structuraux ............ 4.3.5 *
calcul planim[e2]trigue des param[e2]tres
structuraux ..................................... 4.3.6 *
corde de moyenne arithmetigue .......................... 4.3.17
constituant de structure ............................... 4.2.4
couvre-objet ........................................... 4.1.9
cristal ................................................ 4.2.17
dispositif microscopique int[e2]gral ................... 4.4.10 *
evalution quantative d'une structure ................... 4.1.2
facteur de fonction de distribution den particules ..... 4.3.10
facteur d'irr[e2]gularit[e2] ........................... 4.3.9 *
fissures ............................................... 4.2.14
granulosit[e2] de structure ............................ 4.2.5 *
lame mince opaque ...................................... 4.1.7
limite de r[e2]solition du microscope .................. 4.4.11 *
macrostructure d'un mat[e2]riall ....................... 4.2.2 *
m[e2]thode ............................................. 4.3.1 *
mesures optiques photom[e2]triques ..................... 4.3.4 *
microfissures .......................................... 4.2.15
microm[e2]tre .......................................... 4.4.9 *
microscope ............................................. 4.4.1
microscope de lumi[e2]re ............................... 4.4.2 *
microscope de mesurage ................................. 4.4.7
microscope [e2]lectronique ............................. 4.4.4 *
microscope m[e2]tallographique ......................... 4.4.6 *
microscope polarisant .................................. 4.4.3
microscope st[e2]r[e2]oscopique polarisant ............. 4.4.5 *
microscopie optique .................................... 4.1.3
microstructure d'un mat[e2]riall ....................... 4.2.3 *
microtome .............................................. 4.4.8
min[e2]ral ............................................. 4.2.16 *
min[e2]ral anisotrope .................................. 4.2.18 *
min[e2]ral isotrope .................................... 4.2.19 *
object [a4] mesurer .................................... 4.3.3 *
param[e2]tres de structure ............................. 4.3.2 *
photomicrographie d'une structure ...................... 4.1.5
pores .................................................. 4.2.10
porosit[e2] ferm[e2]e .................................. 4.2.13 *
porosit[e2] ouverte .................................... 4.2.12 *
porosit[e2] ouverte totale ............................. 4.2.11 *
porte-object (du microscope) ........................... 4.1.8
pouvoir s[e2]parateur du microscope .................... 4.4.12
profondeuer de foyer du microscope ..................... 4.4.13
rayon de moyenne arithm[e2]tigue des particules
dans la section polie ............................ 4.3.15
rayon de moyenne arithm[e2]tigue des particules ........ 4.3.14 *
section polie .......................................... 4.1.6
structure de basall .................................... 4.2.6
structure de contact ................................... 4.2.8
structure d'un mat[e2]riall ............................ 4.2.1 *
structure pelliculaire ................................. 4.2.9
structure poreuse ...................................... 4.2.7
surfase moyenne des section de particules (cercles) .... 4.3.13
teneur volumigue on composant dans le mat[e2]rial ...... 4.3.12 *
valeuer d'une unit[e2] de mesure ....................... 4.3.11
volume moyen de particules ............................. 4.3.16
Абетковий покажчик російських термінів
анализ структуры микроскопический количественный ....... 4.1.4
анализ физико-химический количественный ............... 4.1.1
аншлиф (непрозрачный шлиф) ............................. 4.1.7
бальзам ................................................ 4.1.10
глубина резкости микроскопа ............................ 4.4.13
измерения фотометрические оптические ................... 4.3.4
коффициент неравномерности ............................. 4.3.9
коффициент функции распреления частиц .................. 4.3.10
кристалл ............................................... 4.2.17
макроструктура материала ............................... 4.2.2
метод .................................................. 4.3.1
микрометр .............................................. 4.4.9
микроскоп .............................................. 4.4.1
микроскоп измерительный ................................ 4.4.7
микроскоп металлографический ........................... 4.4.6
микроскоп световой ..................................... 4.4.2
микроскоп поляризационный .............................. 4.4.3
микроскоп стереоскопический поляризационный ............ 4.4.5
микроскоп электронный .................................. 4.4.4
микроскопия оптическая ................................. 4.1.3
микроструктура материала ............................... 4.2.3
микросъемка структуры .................................. 4.1.5
микротом ............................................... 4.4.8
микротрещины ........................................... 4.2.15
минерал ................................................ 4.2.16
минерал анизотропный ................................... 4.2.18
минерал изотропный ..................................... 4.2.19
обЬект измеряемый ...................................... 4.3.3
обЬем частиц средний ................................... 4.3.16
оценка структуры количественная ........................ 4.1.2
параметры структуры .................................... 4.3.2
площадь сечений частиц (кругов) средняя ................ 4.3.13
подсчет параметров структуры визуальный ................ 4.3.5
подсчет параметров структуры линейный .................. 4.3.7
подсчет параметров структуры планиметрический .......... 4.3.6
подсчет параметров структуры фотоэлектронный ........... 4.3.8
пористость закрытая .................................... 4.2.13
пористость общая ....................................... 4.2.11
пористость открытая .................................... 4.2.12
поры ................................................... 4.2.10
предел разрешения микроскопа ........................... 4.4.11
радиус частиц в шлифе среднеарифметический ............. 4.3.15
радиус частиц среднеарифметический ..................... 4.3.14
содержание компонента в материале обЬемное ............. 4.3.12
составляющая структурная ............................... 4.2.4
способность микроскопа разрешающая ..................... 4.4.12
стекло покровное ....................................... 4.1.9
стекло предметное ...................................... 4.1.8
структура базальтовая .................................. 4.2.6
структура зернистая ................................... 4.2.5
структура контактная ................................... 4.2.8
структура материала .................................... 4.2.1
структура пленочная .................................... 4.2.9
структура поровая ...................................... 4.2.7
трещины ................................................ 4.2.14
устройство микроскопическое интеграционное ............. 4.4.10
хорда среднеарифметическая ............................. 4.3.17
цена условной единицы измерения ........................ 4.3.11
шлиф ................................................... 4.1.6
УДК 006.354:543.4
Ключові слова:
абетковий покажчик, аналіз структури,
аншліф, визначення, кристал, мінерал,
оптична мікроскопія, пористість, термін,
фокусування, шліф.
Примітка.
*/ цифри за літерами в квадратних дужках
відповідають значенням в таблиці
відповідності символів
